Determination of temperature of the thyristor semiconductor structure under cyclic loading

Authors

  • V. S. Ostrenko Zaporizhia State Engineering Academy, Ukraine
  • O. V. Vasilenko Zaporizhia State Engineering Academy, Ukraine

DOI:

https://doi.org/10.15588/1607-6761-2012-1-3

Keywords:

thyristor, junction temperature, cyclic mode, thermal resistance

Abstract

This article focuses on the method of determination of maximum and minimum junction temperatures of the thyristors semiconductor structure operating in the mode of cyclically varying loads. This allows to determine the maximum value of current through the thyristor and to determine the approximate value of the duration of the thyristors under cyclic loading.

Author Biographies

V. S. Ostrenko, Zaporizhia State Engineering Academy

Ph.D., Associate Professor

O. V. Vasilenko, Zaporizhia State Engineering Academy

Ph.D., Associate Professor

References

Серия комплектных тиристорных электроприводов постоянного тока КТЭ IV-го поколения [Електронний ресурс]: технические данные тиристорных преобразователей / ОАО «Преобразователь». – Электрон. дан. (1 файл, 29,64 КБ). – Украина, Запорожье, «Преобразователь», 2011. – Режим доступа: http://www.zpr.com.ua/products/branches23/kte_4go_pokoleniya/ (свободный). – Загл. с экрана.

Тиристоры (Технический справочник) / пер. с англ. под редакцией В. А. Лабунцова, С. Г. Обухова, А. Ф. Свиридова. – М. : Энергия, 1971. – 560 с. с илл.

Тиристор низкочастотный Т253-1250. [Електронний ресурс]: технические данные тиристора / ОАО «Электровыпрямитель». – Электрон. дан. (1 файл, 137,47 КБ). – Россия, Саранск, Электровыпрямитель», 2009. – Режим доступа [2012] : http://www.elvpr.ru/poluprovodnikprib/tiristory/T253_1250.pdf (свободный). – Загл. с экрана.

Охладители воздушного охлаждения для приборов таблеточного исполнения типов О243, О153 [Електронний ресурс]: технические данные охладителей / ОАО «Электровыпрямитель». – Электрон. дан. (1 файл, 172,38 КБ). – Россия, Саранск, «Электровыпрямитель», 2006. – Режим доступа [2012]: http://www.rill.ru/userfiles/images/Elvpr/ohladiteli/O243%20O153.pdf (свободный). – Загл. с экрана.

Reliability of High Power Bipolar Devices [Електронний ресурс] = Надежность работы мощных биполярных приборов: описание конструкции тиристоров, параметры надежности, циклостойкость приборов / Dinesh Chamund, Colin Rout, AN 5948 фирмы DYNEX – Электрон. дан. (1 файл, 828,15 КБ), [2009]. – Режим доступа:http://www.dynexsemi.com/assets/application_Notes/DNX_AN5948.pdf (свободный). – Загл. с экрана.

How to Cite

Ostrenko, V. S., & Vasilenko, O. V. (2012). Determination of temperature of the thyristor semiconductor structure under cyclic loading. Electrical Engineering and Power Engineering, (1), 13–16. https://doi.org/10.15588/1607-6761-2012-1-3